精密四探針電阻率測試儀 型號：HAD-S2662
HAD-S2661/2662/2663 系列精密四探針電阻率測試儀，可根據(jù)不同材料特性需要，有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測試柔性材料導電薄膜、PE 膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜（ITO 膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導體材料廠、高等院校和科研單位對導體、半導體材料導電性能的測量。
性能特點
v 超大液晶人性化操作界面
v 多種測量參數(shù)可選
v 測量數(shù)據(jù)自動保持功能
v 超快測量并顯示讀數(shù)
v 量程有自動和手動雙模式
v 檔號顯示及檔計數(shù)功能
v 兼容多種材料測量
v 專業(yè)的通訊接口可以與 PC 進行數(shù)據(jù)通訊及對儀器的遠程控制
應用
l 金屬片、導電金屬箔材料、金屬箔上涂層
l 單晶硅、多晶硅、硅片、硅晶棒、硅錠、硅塊料
l 石墨烯、鋰電池電極、氫燃料電池雙極板、太陽能電池片
產(chǎn)品型號 HAD-S2661 HAD-S2662 HAD-S2663 HAD-S2663A
HAD-S2661 電阻率 10µΩ･cm－200kΩ･cm 電阻率 10µΩ･cm－200kΩ･cm 模擬電阻 10µΩ－200kΩ
HAD-S2662 電阻率 1µΩ･cm－2MΩ･cm 電阻率 10µΩ/sq－2MΩ/sq 模擬電阻 1µΩ－2MΩ
HAD-S2663 電阻率 1µΩ･cm－20MΩ･cm 電阻率 10µΩ/sq－20MΩ/sq 模擬電阻 10µΩ－20MΩ
HAD-S2663A 電阻率 0.1µΩ･cm－20MΩ･cm 電阻率 1µΩ/sq－20MΩ/sq模擬電阻 1µΩ－20MΩ
性能指標
顯示器 高清 LCD 液晶顯示
顯示位數(shù) 6 位
精度 電阻率、方阻：4%；模擬電阻：0.1%；
測量功能
量程方式 自動，保持
測量速度 快速: 10 次/秒，中速: 5 次/秒，慢速: 2 次/秒
觸發(fā)方式 內(nèi)部，手動，外部
分選和接口
分選功能 內(nèi)建比較器：合格、上超和下超
訊響 合格，不合格，關(guān)閉
接口配置 RS-232C 接口/HANDLER/USB Device（選件）
一般規(guī)格
操作環(huán)境 0°C －40°C ，≤90%RH
保證精度環(huán)境 23±5℃，≤80%RH
電源要求 198V－242V(AC），47.5Hz－63Hz
功耗 ≤30 VA
尺寸、重量 335 mm(寬) x 120 mm(高) x 320 mm(深) 5.5kg
京公網(wǎng)安備 11010802034799號
